CMI243 涂層測(cè)厚儀
更新時(shí)間:2024-09-10
CMI 243是一款專門為測(cè)量磁性金屬上的鍍鋅、鎳層厚度而設(shè)計(jì)的便攜式測(cè)厚儀。的電渦流測(cè)試方式使測(cè)量加。配置的測(cè)量探頭對(duì)細(xì)小的零件也可以測(cè)量。它具有X射線熒光測(cè)厚儀的測(cè)量精度,同時(shí)也避免了庫(kù)侖法對(duì)被測(cè)工件帶來(lái)的破壞。CMI 243在設(shè)計(jì)上加合理、 、實(shí)用。
- 上一個(gè):CMI233CMI233涂層測(cè)厚儀
- 下一個(gè):Surfix FSurfix F涂層測(cè)厚儀
CMI243 涂層測(cè)厚儀介紹:
CMI243鍍層測(cè)厚儀是一款靈便易用的儀器,專為金屬表面處理者設(shè)計(jì),配置的單探頭可測(cè)量鐵質(zhì)底材上所有金屬鍍層。在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上進(jìn)行測(cè)量的能力,使這款鍍層測(cè)厚儀成為緊固件行業(yè)應(yīng)用的理想工具。
采用基于相位電渦流技術(shù),CMI243手持式鍍層測(cè)厚儀以友好的控制和可以與X射線熒光測(cè)厚儀媲美的準(zhǔn)確、精密的測(cè)量而著稱。
測(cè)量技術(shù):一般的測(cè)試方法,例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的"升離效應(yīng)"導(dǎo)致的底材效應(yīng),和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。而牛津儀器將的基于相位電渦流技術(shù)應(yīng)用到CMI243鍍層測(cè)厚儀,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)(對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片)的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用,將底材效應(yīng)zui小化,使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。另外,鍍層測(cè)厚儀一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。
CMI243 涂層測(cè)厚儀特點(diǎn):
--便攜式、無(wú)損測(cè)量各種金屬鍍層
--精度高、穩(wěn)定性好
--測(cè)量精度可與X射線測(cè)厚儀媲美
--可測(cè)量各種微型部件(φ2.5mm)
--232接口,可連接打印機(jī)或電腦
CMI243 涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
探頭 | ECO-M鋅鎳均可測(cè)量 |
準(zhǔn)確度 | ±1% |
測(cè)量范圍 | 0.08-1.50mils(2-38um) |
分辨率 | 0.01mils(0.1um) |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ASTM B244-B259;DIN 50984;ISO 2360;ISO29168(DRAFT);BS 5411 |
單位 | 公、英制自動(dòng)轉(zhuǎn)換 |
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示 | 讀取次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、zui高值、zui低值、zui終值 |
記憶儲(chǔ)存 | 12400個(gè)數(shù)據(jù) |
接口 | RS-232 |
顯示 | 液晶顯示,字符高12.7mm |
電池 | 9V電池 |
外型尺寸 | 14.9X7.94X3.02cm |
重量 | 260g(含電池) |
品牌 | 英國(guó)牛津儀器 |
產(chǎn)地 | 美國(guó) |
- 代替原FMP20/FMP40德國(guó)菲希爾DPM20/DMP 40 便攜式涂層測(cè)厚儀
- 代替原FMP10/FMP30德國(guó)菲希爾DPM10/DMP 30 便攜式涂層測(cè)厚儀
- 德國(guó)菲希爾FMP150 涂層測(cè)厚儀
- 菲希爾PMP10 DUPLEX手持式電鍍鍍層測(cè)厚儀
- 菲希爾PHASCOPE PMP10手持式電鍍鍍層測(cè)厚儀
- 菲希爾MMS INSPECTION DFT 涂層測(cè)厚儀
- 美國(guó)ilakor LK10-FN1涂層測(cè)厚儀
- 美國(guó)ilakor LK10-F1涂層測(cè)厚儀
- 尼克斯QNix 4500B云涂層測(cè)厚儀
- PosiTest DFT-Combo型涂層測(cè)厚儀