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日本NF 高精度LCR測試儀

日本NF 高精度LCR測試儀

更新時間:2024-09-13

產品特點:
日本NF 高精度LCR測試儀介紹:
ZM2376高精度LCR測試儀測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域的。實現(xiàn)快速、高精度的穩(wěn)定測量,而且快速且偏差小的穩(wěn)定測量,可對應從材料研究到零部 件生產線等的各種用途。
產品介紹
品牌其他品牌產地類別進口
類型高速LCR測量儀測量范圍1 mHz~5.5 MHz
測量準確度0.08 %%測量頻率1 mHz~5.5 MHzHz
測量速度最快2ms應用領域化工,能源,電子

   日本NF 高精度LCR測試儀介紹:

 ZM2376高精度LCR測試儀測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域的。實現(xiàn)快速、高精度的穩(wěn)定測量,而且快速且偏差小的穩(wěn)定測量,可對應從材料研究到零部 件生產線等的各種用途。

   日本NF 高精度LCR測試儀型號區(qū)別:

?

 

測試夾具、測試導線(單獨出售)
匯集了可對應各種應用的測量夾具。
*測量頻率范圍是考慮了誤差因素的推薦測量范圍。

 

通用部件
可4端子測量的測試導線??烧_測量低抗阻。
開爾文夾測試導線是用2個電氣絕緣電極相向而成的1個測量夾。

 

4端子鱷魚夾 測試導線 2324

● 測量頻率 ≤100kHz

 

 


2325AL(標準夾)

開爾文夾測試導線 2325AL/2325AM

● 測量頻率 ≤100kHz

[M 型]

[L 型]
 

 

 

開爾文測量夾 測試導線 ZM2392

● 測量頻率 ≤20kHz

 

 

適合高阻抗測量的遮蔽用導線的2端子連接的導線。

3端子鱷魚夾 測試導線 ZM2391

● 測量頻率 ≤20kHz

 

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導線類部件
只需要將試樣插入導線中就能輕松測量的4端子法測試夾具。
可根據(jù)零部件大小來調整測量端子間隔。

 

測試夾具 ZM2363

● 測量頻率 ≤10MHz

 

芯片部件
通過2端子連線來測量表面著裝部件的測試夾具。沒有使用電纜,因此寄生電容及殘留阻抗小,能夠正確的進行開路補償、短路補償。

 

芯片測試夾具 ZM2394

● 測量頻率 ≤2MHz

● 對應部件尺寸0603(厚度0.3mm)~14mm角

 

 

芯片測試夾具 ZM2394H

● 測量頻率 ≤36MHz

● 對應部件尺寸0603(厚度0.3mm)~14mm角

 

 

芯片測試夾具 ZM2393

● 測量頻率 ≤1.2MHz

● 對應部件尺寸1608~5750

 

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遮蔽測量接口的3端子構造的芯片部件用測試導線。寄生電容小,容易測量小容量電容。

 

芯片部件用測試導線 ZM2366

● 測量頻率 ≤10MHz

● 先端間隔 1~8mm (typ.)

 

 

芯片部件用測試導線 2326A

● 測量頻率 ≤1.2MHz

● 先端間隔 1~8mm (typ.)

 

適配器

 

DC電壓偏置適配器
可在試樣上加載±40V的偏置電壓的適配器。可以簡單的與LCR測量儀及測試夾具連接。
(4端子對構造)

 


ZM2329(ZM2376用)


ZM2328(ZM2371/ZM2372用)

 

型號

品名

ZM2371

基本精度 0.08%,頻率范圍 1mHz~100kHz , 測量速度 采樣2ms

Detail

ZM2372

基本精度 0.08%,頻率范圍 1mHz~100kHz , 測量速度 采樣2ms,
4端子的接觸檢查功能,處理機接口

ZM

寬頻測量范圍和高分辨率設定

ZM2371與ZM2372覆蓋了從1 mHz到100 kHz的測量頻率范圍,并擁有5位數(shù)的分辨率。ZM2376則覆蓋了從1 mHz到5.5 MHz的測量頻率范圍,并擁有6位數(shù)的分辨率。該產品不但適用于一般電子產品的測量,還可以被應用于電池或其他材料的阻抗特性評估。

 
高重復性的測量結果

該產品的測試結果為在同樣的測試條件下,對相同的測試對象測試200次的結果。ZM2372的測試結果偏差大概在0.01%以下,而ZM2376則高重復性的測量結果,對于阻抗測量儀來說是十分重要的。

- 測量1 nF的電容
測量條件 (時間: 5 ms, 頻率: 100 kHz, 信號水平: 1 V)
200次測量結果的偏差
 
ZM2736ZM2732
 
針對放電的保護功能

在使用通用的測量儀器時,儲存了電荷的電解電容器一旦被連接則會出現(xiàn)放電,而輸入電路就很可能會被損壞。ZM系列針對放電的保護功能,可以保護輸入電路不被此能量損壞。所以在測量中若不小心連接上儲存了電荷的部件后,可以防止事故的發(fā)生。

 
廣域的測量電平和ALC功能

對10mVrms~5Vrms/1μArms~200mArms的測量信號電平可進行3位數(shù)分辨率的設置。另外,利用ALC(自動電平控制)功能可以設置定電壓/定電流驅動,因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅動信號來驅動,可實現(xiàn)高再現(xiàn)性的測量。

 
快速測量

測量時間可以在RAP (Rapid),F(xiàn)AST,MED (Medium),SLOW,VSLO (Very Slow) 這5種等級切換。選擇RAP,可以實現(xiàn)2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測量??焖佟⒏呔鹊腖CR測量儀有助于提高生產線及自動檢查裝置的測量效率。

 
高精度

實現(xiàn)了基本精度0.08%、顯示分辨率多6位數(shù)的高精度測量。值得信賴的測量在從端器件的開發(fā)到檢查線零部件分選,對提高產品性能和品質*的。

 
DC偏置電壓

ZM2371與ZM2372的內置DC偏置電源為0~+2.5 V,ZM2376為0~+5 V。這一功能使得測量電解電容等具有極性元件成為了可能。使用ZM2376,可以以將電池的直流電壓相抵消的方式,測量阻抗。

另外,針對更大的DC電壓,還可以選購DC偏置適配器。使用外接DC電源,達±40 V的DC偏置電壓可以被施加到被測物體上,所以還可以測量大容量片式多層陶瓷電容的依賴性等。

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直流電阻 (DCR) 測量

可測量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻??梢酝瑫r在主參數(shù)中顯示電感,在副參數(shù)中顯示直流電阻的測量值。

 

面向產線的功能也很充實!

 
接觸檢查功能

 

● ZM2372

4端子接觸檢查

為了防止因測量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測量或錯誤分選,ZM2372采用4個測量端子來進行接觸檢查判斷,由此排除不良產品。
(進行接觸檢查的額外時間 4ms)
contact check步驟1:
檢查點線之間是否接通
(接觸檢查)
ya
接觸不良時做出不良判定
ya
步驟2:
步驟1的接觸檢查后,進行點線間測量(主測量)

 

 

● ZM2376

接觸檢查、低容量檢查

檢測異常的低容量及電壓、電流,無需額外時間就能檢測出不良接觸。

 

觸發(fā)電路同步驅動

可以只在接觸期間驅動試樣的功能。
可以降低在測量大容量電容時,由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時間內進行測量履歷特性的試樣,測量值會出現(xiàn)較大的誤差。如使用觸發(fā)電路同步驅動的話,加在各試樣上的驅動信號和取得信號的時間以及相位關系都是固定的,可以抑制測量值的誤差,大幅縮短測量時間。

 
偏差顯示

預先設置測量部件的顯示值,可顯示與預設值的偏差、偏差%。 可應用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗等。

 
比較器

主參數(shù)大可分為14個*的BIN類別,在副參數(shù)中可以對設定好的1組上下限值的測量結果進行分選。測量值可通過偏差或偏差%進行分選,判定結果通過處理器接口*輸出。另外,根據(jù)判定結果,有時會發(fā)出嗶噗的聲音。
在遠程控制中,使用限值判定功能,也可以對主參數(shù)、副參數(shù)的上下限值(各1組)進行判定。
*ZM2371:多分9類,未配備處理器接口。

 
復合測量 (ZM 2376)

復合測量是指對一個試樣多可32個步驟的測量條件測量,綜合的進行合格判定的功能。可設定每個步驟的測量頻率、測量信號電平、內部DC偏壓、測量參數(shù)等,對主參數(shù)的上下限值1組、副參數(shù)的上下限值1組進行測量和限值判定。
*ZM2376*的功能。

 
+

接口

+

標配遠程控制用的各種接口。無需追加選購件就可對應生產線嵌入及自動檢查系統(tǒng)等。

 

接口ZM2371ZM2372ZM2376
USB
RS-232
GPIB-
LAN--○(選購)
處理器-

● ZM2376 后面板

zm_back

+

其他功能

  • 補正功能(開路補正,短路補正,負載補正,電纜線補正)
  • 設置、補正值存儲(32組、保存在不揮發(fā)性儲存中、可切換)
  • 電壓電流測量功能
  • 應用軟件(標配)
  • 樣板程序(C#、VB)
  • 標配LabVIEW驅動<ZM2371/ZM2372>
  • IVI計測器驅動(在LabVIEW的系統(tǒng)上自動生成LabVIEW驅動)<ZM2376>

2376

 

項目

ZM2371

ZM2372

ZM2376

測量參數(shù)  主參數(shù):|Z|、|Y|、 L、 C、 R、 G
  副參數(shù): Q、 D、 θ、 X、 B、 Rs、 Rp、 G、 Lp、 Rdc
測量頻率1 mHz~100 kHz1 mHz~5.5 MHz

基本精度

0.08 %

測量信號電平

10mVrms~5Vrms、1μArms~200mArms
內部DC偏置0~+2.5V0~+5V
測量時間1kHz采樣2ms
1MHz采樣2ms
定電壓/
定電流驅動(ALC)
接觸檢測○(4端子)
低電容檢測
比較器○(9分類)○(14分類)○(14分類)
復合測量○(32步驟)
處理器

 

軟件(標配)
+

該軟件提供了多種測量的設置,并能獲取和顯示測量數(shù)據(jù)。測量數(shù)據(jù)可以用CSV文件格式獲取,方便適用于大量數(shù)據(jù)的處理。此外,主機所不能完成的掃頻測量模式,也可以使用軟件完成。從而就可以進行阻抗頻率特性的測量。

應用軟件

應用軟件

主設置畫面

采用Excel顯示圖表

 

● 操作系統(tǒng)

   ● OS:Windows 7 (32bit版/64bit版)、Windows 8.1 (32bit版/64bit版)、Windows 10 (32bit版/64bit版)

   ● 接口:USB
       設置與測量數(shù)據(jù)的保存需要Microsoft Excel 97以上版本

接口
ZM2371/ZM2372 附件
• 電源線組件 (3極, 2m)1
• 使用說明書1
• CD (應用軟件, LabVIEW驅動, 樣例程序)1
 
ZM2376 附件
• 電源線組件 (3極, 2m)1
• CD (應用軟件, 樣例程序, IV測量儀驅動)1

 

基本精度 0.08%,頻率范圍 1mHz~5.5MHz , 測量速度 采樣2ms,
接觸檢查、低容量檢查

 

測量范圍覆蓋從1mHz低頻領域到5.5Hz高頻領域的NF LCR 測量儀ZM系列
實現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量,可對應從材料研究到零部 件生產線等的各種用途

 
ZM2376
ZM2371_ZM2372
 
 
偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例
 

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,對1nF的電容反復測量200次后得到的結果。
使用ZM2376,測量的再現(xiàn)性得到了進一步提高。

 
ZM2376

● 測量時間:5ms     
● 測量頻率:100kHz     
● 測量信號電平:1V

ZM2372?

 

應用
使用較長接線/溫度試驗箱的測量
ZM系列具有抑制接線所造成影響的補償功能。在以下測量實例中,無論使用1m,2m還是4m的接線,測量結果都相差不大。在使用溫度試驗箱的測量中,測量儀器與被測物件的接線非常的細長,但是還是可以得到準確的測量結果。
 
 


▲ 電感測量示例(電纜長度1m、2m、4m)
 
 
 
快速測量鋰離子電池的阻抗。
ZM2376的內部DC偏置電壓大可設置為+5V,因此可以測量電動勢超過3V的鋰離子電池(單電池)。
另外,可從1mHz的低頻率開始測量,因此可以對電池的內部阻抗進行詳細評價。
 
 


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